برچسب: پارک علم و فناوری دانشگاه صنعتی شریف

تهران- ایرنا- یک شرکت دانش بنیان موفق به ارائه میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) با قدرت تفکیک ۲۰ نانومتر شده است که برای مطالعه مورفولوژی و ترکیب شیمیایی سطح و تعیین ضخامت لایه‌های نازک پوشش‌دهی شده روی یک زیرلایه کاربرد دارد.

تهران- ایرنا- یک شرکت دانش بنیان موفق به ارائه میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) با قدرت تفکیک ۲۰ نانومتر شده است که برای مطالعه مورفولوژی و ترکیب شیمیایی سطح و تعیین ضخامت لایه‌های نازک پوشش‌دهی شده روی یک زیرلایه کاربرد دارد.

تهران- ایرنا- یک شرکت دانش بنیان موفق به ارائه میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) با قدرت تفکیک ۲۰ نانومتر شده است که برای مطالعه مورفولوژی و ترکیب شیمیایی سطح و تعیین ضخامت لایه‌های نازک پوشش‌دهی شده روی یک زیرلایه کاربرد دارد.